超精度美国BOWMAN(博曼)线路板X-RAY膜厚仪
特点详细介绍:
1.可测量0.01um-300um的镀层。
2.可做各种镀层(多层、合金、多层鎳)的精密测量。
3.除平板形外,还可测量圆形、棒形(细线)等各种形状。
4.可制作非破坏性膜厚仪的标准板。
5.该电镀膜厚检测仪可检查非破坏式膜厚仪的测量精度。
6.可高精度测量其他方式不易测量的三层以上的镀层。
7.可对测量数据进行统计处理,以及和逐级进行共同管理。
8.标准板校正值的计算和设定可自动进行,非常简单。
9.有微处理器来进行计算、储存、思考。
10.本膜厚仪采用全对话是操作,因此,只要依据测量条件来进行设定就可测量情况,非常简单。
11.最多可设定四层镀层,而每一层均可进行统计处理。例如:测量条件、平均值、最大值、最小值、上下限值、直方圆均可进行计算并可有列印机印出,制作测量报告很容易。
12.每种镀层所需的电解液、敏感度及搅动标准的选择,均可由电镀膜厚检测仪的微处理器自动判断、设定。
13.测量数据可由通讯网路来传輸,所以能和主机共同进行数据管理。
14.由于分解速度差距分得很细,因此可缩短测量时间。
15.可分离测量铜(合金)上的锡(合金)镀层间的扩散(合金)层。
16.由于可储存64个不同的测量情况,所以有相同的测量情况时,就不必再进行设定。每个测条件可储存9999个数据。
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